发展强有力的程序测试系统，是提高程序可靠性的有效手段。但当前由于国内软件包的问世，在测试范围、测试要求和测试方法等方面，都提出了新的要求，原有的一般程序测试工具已不能独立地、完整地完成测试任务。因此，就提出了设计新的测试系统的要求。本文主要是根据软件包测试的新要求，提出了设计新的测试系统的一些准则。在此基础上，进一步阐明如何根据这些准则，来组成一个测试系统;并以实例来说明这种系统的使用对加速程序测试和提高其可靠性是有效的;同时，使用也很方便。
深圳瑞泰威科技有限公司是国内IC电子元器件的代理销售企业，专业从事各类驱动IC、存储IC、传感器IC、触摸IC销售，越秀区数字ic设计，品类齐全，具备上百个型号。与国内外的东芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶准等均稳定合作，保证产品的优质品质和稳定供货。自公司成立以来，飞速发展，产品已涵盖了工控类IC、光通信类IC、无线通信IC、消费类IC等行业。
IC产品的生命周期
典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线（BathtubCurve）来表示。Ⅰ Ⅱ ⅢRegion (I) 被称为早夭期（Infancy period）
这个阶段产品的 failure rate快速下降，数字ic设计用到哪些电脑软件，造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷；Region (II)被称为使用期（Useful life period）在这个阶段产品的failurerate保持稳定，失效的原因往往是随机的，比如温度变化等等；u Region (III) 被称为磨耗期（Wear-Outperiod）在这个阶段failure rate会快速升高，失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。认识了典型IC产品的生命周期，我们就可以看到，Reliability的问题就是要力图将处于早夭期failure的产品去除并估算其良率，预计产品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生产，封装，存储等方面出现的问题所造成的失效原因。下面就是一些IC 产品可靠性等级测试项目（IC Product Level reliability testitems ）
一、使用寿命测试项目（Life test items）：EFR， OLT(HTOL)， LTOL①EFR:早期失效等级测试（ Early fail Rate Test ）目的:评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品。测试条件:在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，数字ic设计具体工作，离子玷污等由于生产造成的失效。
随着Internet的普及，远程教育在我国已有了很大的发展，尤其是CAI课件以及一些教学交互的软件的研究已有相当的程度。然而远程实验的发展却大大落后，这是由于不同领域实验的远程化需要研究不同的实现方法。在本文中首先阐述了一种高校电子信息类专业数字逻辑以及现代可编程器件(FPGA/CPLD)等课程的远程实验系统，在这个系统中使用远程测试(数字IC测试)来实现实实在在的硬件实验，使得这个系统不同于纯软件的。
接着叙述了该实验系统中虚拟实验环境软件和实验服务提供端的数字IC测试系统的设计。虚拟实验环境软件提供一个可灵活配置、形象直观的实验界面，嵌入式和ic数字设计，这个界面为使用者提供了实验的感性认识。数字IC测试系统完成实际实验:提供激励并测试响应。本文叙述的数字IC测试系统可对多达96通道的可编程器件进行实验，另外它还作为面向维修的测试仪器，具有在线测试、连线测试、V-I测试、施加上拉电阻、调节门槛比较电平等功能。
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